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GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

  • 文件大小:337 KB
  • 文件类型:国家标准
  • 标准语言:简体标准
  • 授权形式:免费标准
  • 文件类型:PDF格式
  • 安全检测:瑞星、江民、卡巴、可牛:安全
  • 更新时间:2010-01-16
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  • 标签纳米材料

资料介绍

标  准  编  号:GB/T 23413-2009 
简体中文标题:纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
繁體中文標題:納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定 X射線衍射線寬化法
English Name:Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

标准简介:
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm,微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

“GB/T 23413-2009” 标准由“标准下载站-www.anystandards.com”收集整理,仅供学习之用,如用于商业用途,请购买正版,因使用或转载而引起的法律纠纷请自负。

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