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GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法

  • 文件大小:151KB
  • 文件类型:国家标准
  • 标准语言:简体标准
  • 授权形式:免费标准
  • 文件类型:PDF格式
  • 安全检测:瑞星、江民、卡巴、可牛:安全
  • 更新时间:2009-07-18
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资料介绍

标  准  编  号:GB/T 17723-1999 
简体中文标题:黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法
繁体中文标题:黃金制品鍍層成分的 X 射線能譜測量方法
English Name:Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
简介: 本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪(包括装有X射线能谱仪的电子探针仪)对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金,其镀层厚度为0.2μm以上,3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。

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